嘉银金科:三季度净利润1.25亿元,同比增长41.2%
06-18
中国顶级学术机构将使用爱德万测试系统作为培养内存技术人才的唯一平台全球领先的半导体测试设备供应商爱德万已售出两款工程机系统 - TES 和 TES 测试解决方案 - 为中国顶级学术机构清华大学提供。
该系统将安装在该大学的微电子与纳米电子系,用于芯片设计教学,培训学生如何测试广泛应用于显示器和移动电子产品的串行外设接口(SPI)NOR闪存设备。
爱德万测试中国区首席执行官徐勇表示:“我们很高兴与清华大学保持合作关系,这对中国半导体生态系统具有重大影响,有助于展示我们测试人员的技术能力,为中国设计公司提供支持。
”先进存储器已在全国范围内推广,以应对物联网和智能卡等高速增长的市场。
” TES 内存测试系统针对各种闪存器件的经济高效测试进行了优化。

工程系统。
这个多功能平台旨在为用户提供高投资回报(ROI)并降低财务风险。
它能够处理高达每秒兆位 (Mbps) 的数据传输速率。
可扩展的内置大电流可编程电源(PPS)架构使系统能够执行低引脚数和高引脚数闪存的晶圆测试和后端封装测试。
与 T 系列的其他成员一样,它采用 Advantest 创新的 Tester-per-Site? 设计构建,允许每个站点独立运行,从而缩短测试时间并降低测试成本,并利用 FutureSuite? 软件增强可靠性和可升级性。
Advantest 的多功能 TES 工程测试设备专为全系列存储器 IC(包括 LPDDR3 DRAM、高速 NAND 闪存器件和下一代非易失性存储器)的晶圆测试和后端封装测试而设计。
除了支持高达 2.4 Gbps 速度的已知良好芯片 (KGD) 测试之外,TES 还依赖于高效灵活的站点 CPU 架构,该架构可以配置多个 CPU 来控制和优化测试过程。
测试系统提供业界领先的高速故障地址存储功能和故障分析功能,也称为内存冗余功能。
这两个功能都可以根据需要进行缩放和扩展,例如添加更多 CPU 来修复分析计算。
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