与iOS 14.5最强更新功能相比，Android系统表现如何？
06-21
从前端制程方案的纳米级监控，到满足AIoT应用的半导体测试，致茂电子在半导体测试领域拥有众多产品线，包括从研发到量产阶段所需的设备包括ATE大型测试系统、IC分选机和PXI/PXIe小型化测试平台等都有完整的相应产品，为客户提供最合适的选择。
Chroma集团还增加了针对半导体前端工艺和AIoT连接的解决方案监控，可以满足趋势应用。
测试解决方案。
今年，SEMICON台湾将真实展示SuperSizer解决方案纳米粒子监测系统，让您现场体验鹰眼级的测试设备。
Eagle-Eye SuperSizer解决方案纳米颗粒监测系统 半导体工艺技术已经以极快的速度进步到线宽10纳米和7纳米，并且在不久的将来将达到5纳米甚至3纳米。
现有的纳米颗粒监测技术几乎无法监测大于20纳米的颗粒，这极大地影响了工艺良率，这远远不能满足生产线的需求。
Chroma集团旗下兆胜纳米科技推出SuperSizer纳米颗粒监测系统，这是提高工艺良率的有力工具，为客户提供了监测工艺液体中小于20纳米颗粒的尺寸和分布的能力，并已能够全天24小时实时监控，有效预防纳米缺陷形成，显着提高良率。
智能网联专门需要的SoC测试系统随着智能互联家居市场的发展，让家居变得更智能、更便捷的关键在于人工智能（AI）数据分析技术和大数据（big data）统计、语音（Audio）识别系统、技术和安全性，以改善家庭网络连接。
近年来，致茂电子积极开发智能家居生态系统所需SoC芯片的测试设备，并持续推出更多集成测量解决方案，以提供最低的测试成本，满足复杂SoC的测试应用需求。
HDAVO（高密度音频视频选项）是一种高性能混合信号解决方案，为语音（音频）识别系统中的SoC提供高性能、高通道、高并行数的可选模块。
它具有同时接收的8（16）个差分源模块（AWG）和8个差分测量模块（DGT），并且可以在每个差分源模块（AWG）和每个差分测量模块（ DGT）可以提供高达Msps的采样频率。
具有高规格、低成本、多功能等优势，甚至可以应对未来5G基带芯片所需的I/Q信号的生成和开发。
搭配CRISPro软件套件，用户可以使用图形界面（GUI）或编程语言来开发和调试测试程序，让用户更快地完成程序开发并导入量产。
物联网连接测试解决方案 Adivic MPRF ATE 测试解决方案是 Chroma 集团旗下慧宏科技的产品。
它专为 Chroma 半导体测试设备（VLSI/SoC 测试系统）而设计。
客户可以使用现有的数字/??模拟/混合信号IC应用。
可以购买可选的Adivic MP，将测试设备扩展为完整的射频芯片测试解决方案，可支持主要的物联网(IoT)，包括NB-IoT、GPS/北斗、Wi-Fi、蓝牙和Tuner。
通信标准，覆盖10MHz~6GHz全频域的超高带宽VSG/VSA模块可广泛应用于未来各种无线通信标准。
具有ATE功能的PXIe数字I/O卡Chroma 0是一款具有自动测试系统（ATE）功能的PXIe架构PE卡。
除了传统的ATE测试系统（Chroma D-通道、Chroma P-通道、Chroma-通道）外，Chroma 0更符合PXI测试解决方案的发展和应用趋势及需求，以应对未来更小型化的趋势IC 通道和日益复杂的功能，特别是在物联网和汽车电子 IC 测试领域。
无论应用如何变化，PXI/PXIe 架构都用于半导体测试。
它在灵活性和弹性方面具有一定的优势。
应用范围包括微控制器（MCU）、微机电（MEMS）、射频IC（RF IC）和电源IC（PMIC）测试解决方案。
SEMICON台湾展（9月5-7日），致茂电子将在台北南港展览馆一馆（展位号：K）展示最新的半导体测试解决方案。
我们还将提供定制的半导体/IC测试解决方案，以满足您的特殊需求。
相信您会有新的体验和意想不到的收获。
有了您的支持，驰茂才能变得更加强大，我们期待在今年的展会上与您见面。
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