阿里巴巴领投,乐言科技完成2亿元C3轮融资,
06-17
从前端制程方案的纳米级监控,到满足AIoT应用的半导体测试,致茂电子在半导体测试领域拥有众多产品线,包括从研发到量产阶段所需的设备包括ATE大型测试系统、IC分选机和PXI/PXIe小型化测试平台等都有完整的相应产品,为客户提供最合适的选择。
Chroma集团还增加了针对半导体前端工艺和AIoT连接的解决方案监控,可以满足趋势应用。
测试解决方案。
今年,SEMICON台湾将真实展示SuperSizer解决方案纳米粒子监测系统,让您现场体验鹰眼级的测试设备。
Eagle-Eye SuperSizer解决方案纳米颗粒监测系统 半导体工艺技术已经以极快的速度进步到线宽10纳米和7纳米,并且在不久的将来将达到5纳米甚至3纳米。
现有的纳米颗粒监测技术几乎无法监测大于20纳米的颗粒,这极大地影响了工艺良率,这远远不能满足生产线的需求。
Chroma集团旗下兆胜纳米科技推出SuperSizer纳米颗粒监测系统,这是提高工艺良率的有力工具,为客户提供了监测工艺液体中小于20纳米颗粒的尺寸和分布的能力,并已能够全天24小时实时监控,有效预防纳米缺陷形成,显着提高良率。
智能网联专门需要的SoC测试系统随着智能互联家居市场的发展,让家居变得更智能、更便捷的关键在于人工智能(AI)数据分析技术和大数据(big data)统计、语音(Audio)识别系统、技术和安全性,以改善家庭网络连接。
近年来,致茂电子积极开发智能家居生态系统所需SoC芯片的测试设备,并持续推出更多集成测量解决方案,以提供最低的测试成本,满足复杂SoC的测试应用需求。
HDAVO(高密度音频视频选项)是一种高性能混合信号解决方案,为语音(音频)识别系统中的SoC提供高性能、高通道、高并行数的可选模块。
它具有同时接收的8(16)个差分源模块(AWG)和8个差分测量模块(DGT),并且可以在每个差分源模块(AWG)和每个差分测量模块( DGT)可以提供高达Msps的采样频率。
具有高规格、低成本、多功能等优势,甚至可以应对未来5G基带芯片所需的I/Q信号的生成和开发。
搭配CRISPro软件套件,用户可以使用图形界面(GUI)或编程语言来开发和调试测试程序,让用户更快地完成程序开发并导入量产。
物联网连接测试解决方案 Adivic MPRF ATE 测试解决方案是 Chroma 集团旗下慧宏科技的产品。
它专为 Chroma 半导体测试设备(VLSI/SoC 测试系统)而设计。
客户可以使用现有的数字/??模拟/混合信号IC应用。
可以购买可选的Adivic MP,将测试设备扩展为完整的射频芯片测试解决方案,可支持主要的物联网(IoT),包括NB-IoT、GPS/北斗、Wi-Fi、蓝牙和Tuner。
通信标准,覆盖10MHz~6GHz全频域的超高带宽VSG/VSA模块可广泛应用于未来各种无线通信标准。

具有ATE功能的PXIe数字I/O卡Chroma 0是一款具有自动测试系统(ATE)功能的PXIe架构PE卡。
除了传统的ATE测试系统(Chroma D-通道、Chroma P-通道、Chroma-通道)外,Chroma 0更符合PXI测试解决方案的发展和应用趋势及需求,以应对未来更小型化的趋势IC 通道和日益复杂的功能,特别是在物联网和汽车电子 IC 测试领域。
无论应用如何变化,PXI/PXIe 架构都用于半导体测试。
它在灵活性和弹性方面具有一定的优势。
应用范围包括微控制器(MCU)、微机电(MEMS)、射频IC(RF IC)和电源IC(PMIC)测试解决方案。
SEMICON台湾展(9月5-7日),致茂电子将在台北南港展览馆一馆(展位号:K)展示最新的半导体测试解决方案。
我们还将提供定制的半导体/IC测试解决方案,以满足您的特殊需求。
相信您会有新的体验和意想不到的收获。
有了您的支持,驰茂才能变得更加强大,我们期待在今年的展会上与您见面。
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